EDX4500 X荧光光谱仪

X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

EDX4500X荧光光谱仪对于解决钢铁企业对冶炼时炉前分析和钢铁成品中的元素成份分析有着独TE的优势。

钢铁厂为例使用XRF技术前后的效率对比表

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

应用领域

钢铁检测、铁合金全元素分析、有害元素检测。

产品性能参数

测量元素范围: 钠（Na)~铀（U)

元素含量分析范围: ppm ~ 99.99%（不同材质，分析范围不同)

同时分析元素: 一次性可测几十种元素

分析精度: 0.05%(含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性)

测量时间: 60秒~200秒

探测器能量分辨率为: 145±5ev

管压: 5KV ~ 50KV

管流: 50uA~1000uA

测量对象状态: 粉末、固体、液体

输入电压: AC 110V/220V

环境温度: 15℃ ~ 30℃

环境湿度: 35%~70%

样品腔体积: 320mm × 100mm

外形尺寸: 660mm × 510mm × 350mm

重量: 65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

信噪比增强器SNE

钢铁行业测试专用配件

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

可靠的整体钢架结构

90mm x 70mm的状态显示液晶屏

真空泵

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际先jin水平

最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高，在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

仪器专li产品一一信噪比增强器(SNE)，提高信号处理能力25倍以上

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数〔管压、管流、真空度)一目了然

软件介绍

中英语言自动切换，客户可按需自行添加其它语种

人性化界面设计，视窗美观合理

任意多工作区、工作曲线存储功能，便于分析各类样品

高斯、净面积、全面积、元素拟合等光谱强度计算方法任意选择

极其灵敏的元素自动识别系统

检测实例与数据

EDX 4500测不锈钢国标样Cr、Mn、Ni、Cu、Mo数据